BS 6493-1.1-1984 半导体器件.分立器件.综述

作者:标准资料网 时间:2024-05-05 00:40:12  浏览:9424   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part1:Discretedevices-Section1.1General
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.综述
【标准号】:BS6493-1.1-1984
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1984-05-31
【实施或试行日期】:1984-05-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:色码;灵敏度;验收(鉴定);半导体器件;数字标志;静电学;耐久试验;字母;位置;电学测量;图形符号;试验持续时间;电气试验;标准化参数;试验条件;测量;储存;接线端;额定值;等级(质量);符号;选择;标签;作标记;可靠度;定义;电子设备及元件
【英文主题词】:Colourcodes;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Layout;Life(durability);Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Ratings;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Signs;Specification(approval);Symbols
【摘要】:Publications747areintendedtogive:-standardsthataregenerallyvaidfordiscretedevicesaswellasforintegratedcircuits;-additionalstandardstocompletethesetofstandardsfordiscretedevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200;31_080_01
【页数】:64P.;A4
【正文语种】:英语