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ANSI/ASTM D3664-2004 电气设备中电容器用双轴取向的聚乙烯对苯二酸脂薄膜规格

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 18:06:45  浏览:8659   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:SpecificationforBiaxiallyOrientedPolyethyleneTerephthalateFilmforCapacitorsinElectricalEquipment
【原文标准名称】:电气设备中电容器用双轴取向的聚乙烯对苯二酸脂薄膜规格
【标准号】:ANSI/ASTMD3664-2004
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2004-03-01
【实施或试行日期】:2004-03-01
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:覆层;介质材料;电气工程;电绝缘;箔;绝缘件;聚乙烯
【英文主题词】:Coatings;Dielectricmaterials;Electricalengineering;Electricalinsulation;Foil;Insulations;Polyethylene
【摘要】:Thisspecificationcoversthinbiaxiallyorientedpolymericresinfilmforuseincapacitorsforelectricalequipment.Thematerialisbiaxiallyorientedtoimprovethetensilepropertiesinthemachine(MD)andtransverse(TD)directions.Thefollowingsafetyhazardscaveatpertainsonlytothetestmethodssectionofthisspecification.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.ForspecificwarningstatementsseeandfootnoteB.ThevaluesstatedinSIunitsarethestandard.Thevaluesinparenthesesareforinformationonly.Note1-ThisstandardresemblesIEC60674-3-2,Specificationforplasticfilmsforelectricaluse,intitleonly.Thecontentissignificantlydifferent.
【中国标准分类号】:L11;G33
【国际标准分类号】:29_035_20
【页数】:
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.塑料包封器件的易燃性(外部感应)
【标准号】:BSEN60749-32-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-07-07
【实施或试行日期】:2003-07-07
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:外观检查(试验);元部件;环境试验;半导体;热学;集成电路;电学测量;温度变化;气候试验;半导体器件;试验;电子工程;电子设备及元件;电气工程;机械试验;易燃性;易燃性;耐力
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Inflammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Plastics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofIEC60749isapplicabletosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits).Theobjectofthistestistodeterminewhetherthedeviceignitesduetoexternalheating.Thetestusesaneedleflame,simulatingtheeffectofsmallflameswhichmayresultfromfaultconditionswithinequipmentcontainingthedevice.NOTEThistestisidenticaltothetestmethodcontainedin1.2ofchapter4ofIEC60749(1996),apartfromtheadditionofthisclause,theadditionoftitlestoclauses2and3andrenumbering.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:13_220_40;31_080_01
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Numberingmachine
【原文标准名称】:号码机
【标准号】:JISS6022-1975
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:ConsumerLife
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:文化用品;数;记数表示法;序数;办公室设备;办公机器
【英文主题词】:numbers;ordinalnumbers;numberrepresentation;officeequipment;officemachines;stationery
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y54
【国际标准分类号】:
【页数】:2P;A4
【正文语种】:日语



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